• <dd id="ozkos"></dd>
      1. <rp id="ozkos"><span id="ozkos"><u id="ozkos"></u></span></rp>

        1. 關鍵詞搜索: ROHS檢測儀,鹵素測試儀,x射線熒光光譜儀,重金屬檢測儀,鍍層膜厚分析儀,手持合金分析儀,手持礦石分析儀,手持土壤分析儀,ROHS2.0分析儀,rohs十項檢測儀,鄰苯檢測儀,色譜儀,光譜儀

          你的位置:首頁 > 公司新聞 > 簡述鍍層測厚儀的現狀與發展

          公司新聞

          簡述鍍層測厚儀的現狀與發展

          公司新聞
            簡述鍍層測厚儀的現狀與發展
            鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
            鍍層測厚儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
            X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
            隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。鍍層測厚儀適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
          在線咨詢
          電話咨詢
          13751165856
          關注微信
          返回頂部
          国产欧美另类久久久精品图片

        2. <dd id="ozkos"></dd>
            1. <rp id="ozkos"><span id="ozkos"><u id="ozkos"></u></span></rp>

              1. 掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
                訪問手機站