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          關于X射線熒光光譜儀的詳細介紹

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            關于X射線熒光光譜儀的詳細介紹:
            X射線熒光光譜儀分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測定;
            X射線熒光光譜儀簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便,分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,輕元素稍差,分析樣品不被破壞,分析快速,準確,便于自動化。
            X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,分辨率較低的便攜式光譜儀,和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器,如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計數器為探測器,它們不需要液氮冷卻。近年來,采用電致冷的半導體探測器,高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發X射線熒光光譜、質子激發X射線熒光光譜、放射性同位素激發X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
            X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。
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