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          X射線熒光光譜儀的工作原理大剖析

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            X射線熒光光譜儀的工作原理大剖析
            X射線是用高速電子轟擊原子的內層電子,使之處于高激發狀態,同時外層的電子躍遷到缺少電子的內層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大,波長小,肉眼不可見,稱之為X射線。
            X射線熒光的波長是以受激物質(待測物質)的原子序數為特征的,原子序數越大的物質波長越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長,這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進行定性分析的依據;而元素受激發射出來的特征X射線熒光的強度則取決于該元素的含量,這是定量分析的依據。
            X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器。一次X射線源用X光管,它產生的一次X射線轟擊樣品表面,使樣品激發出二次X射線。二次X射線經平行光管變成一束平行光以后,投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過程中是回轉的,即θ是連續變化的,θ的變化會使反射光的波長隨之變化,故2θ的具體值是定性分析的依據。這種變化波長的反射線投射到與分光晶體聯動的檢測器上,檢測器便輸出一個與平面分光晶體反射線強度成比例的信號,它是定量分析的依據。記錄顯示儀表的記錄紙移動的距離與2θ有關,所以記錄下來的曲線就是熒光光譜圖,其橫坐標是波長,縱坐標是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結果。
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