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          探討膜厚測試儀在測量時需要注意的事項!

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            探討膜厚測試儀在測量時需要注意的事項!
            膜厚測試儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
            臺式的熒光X射線膜厚測試儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
            膜厚測試儀測量時需要注意的事項:
            1、首先大家在用測量儀進行測試使用時,要選用與試件相似的金屬磁性標準片來進行測量,不要選擇差別或者區分過大的標準片來試驗測量,不然會導致很大的測量誤差。
            2、其次用戶需要把測量儀的側頭與試樣表面保持垂直,不要出現任何的傾斜,否則不利于測量工作的順利展開,會讓測量任務半途而廢的,變得毫無意義。
            3、我們要把膜厚測量儀放置在沒有磁性干擾的場所來進行測試,否則會對儀器的測量性能造成影響,使得測量儀器不能夠發揮出應有的測量水平來。
            4、用戶在進行測量儀的測量過程中,需要保持壓力的恒定,不然很容易影響到測量的讀數,會給大家帶來不利的影響,讓大家不能記錄到正確化的讀數結果。
            5、測量儀在使用時要讓儀器測頭和被測試件有直接性接觸,如果兩種之間有雜質存在的話,需要先進行清理方可再展開測量工作。
            6、大家在使用膜厚測量儀進行測試的時候,不要在內轉角處和靠近試件邊緣處進行測量,這樣會造成測量結果的誤差,會給我們帶來不便性的。讓測量出來的數據是沒有任何參考價值意義的。
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